26、有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況.
請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上):
(1)兩次測(cè)試最低分在第
次測(cè)試中;
(2)第
次測(cè)試成績(jī)較好;
(3)第一次測(cè)試中,中位數(shù)在
分?jǐn)?shù)段,第二次測(cè)試中,中位數(shù)在
分?jǐn)?shù)段.
分析:(1)由統(tǒng)計(jì)圖直接得到;
(2)看統(tǒng)計(jì)圖判斷;
(3)中位數(shù)是將數(shù)據(jù)從小到大排列,取中間兩個(gè)數(shù)的平均數(shù).
解答:解:(1)兩次測(cè)試最低分在第一次測(cè)試中;
(2)第一次測(cè)試的低分較多,高分較少,所以第二次的測(cè)試成績(jī)較好;
(3)取第50名與51名同學(xué)成績(jī)的平均數(shù),所以第一次測(cè)試中,中位數(shù)落在20-39分?jǐn)?shù)段;第二次測(cè)試中,中位數(shù)落在40-59分?jǐn)?shù)段.
點(diǎn)評(píng):本題考查了讀統(tǒng)計(jì)圖并從統(tǒng)計(jì)圖中獲取信息的能力以及對(duì)中位數(shù)的定義的理解能力.
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科目:初中數(shù)學(xué) 來(lái)源: 題型:

19、有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況(如圖).
請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上)
(1)兩次測(cè)試最低分在第
次測(cè)試中;
(2)第
次測(cè)試較容易;

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科目:初中數(shù)學(xué) 來(lái)源: 題型:

10、如圖,有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況.根據(jù)條形圖提供的信息可知,兩次測(cè)試最低分在第__次測(cè)試中,第____次測(cè)試較容易( 。

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9、有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況如圖所示:根據(jù)條形圖提供的信息,下列說(shuō)法中,正確的是(  )

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有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況.

請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上);
(1)兩次測(cè)試最低分在第
次測(cè)試中;
(2)第
次測(cè)試較容易.

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