(1)加熱前應(yīng)將晶體放在 中研碎,加熱是放在中進(jìn)行,加熱失水后,應(yīng)放在 中冷卻。
(2)判斷是否完全失水的方法: 。
(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作 次。
(4)下面是某學(xué)生一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù),請完成計(jì)算,填入下面的表格中。
坩堝質(zhì)量 | 坩堝與晶體總質(zhì)量 | 加熱后坩堝與固體總質(zhì)量 | 測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù) |
11.7 g | 22.7 g | 18.6 g |
|
(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差偏高的原因可能是。
A.硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)性雜質(zhì)
B.實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C.加熱時(shí)有晶體飛濺出去
D.加熱失水后露置在空氣中冷卻
解析:本題主要考查測定硫酸銅晶體結(jié)晶水含量的實(shí)驗(yàn)操作、數(shù)據(jù)處理及誤差分析等。解題的難點(diǎn)是:①做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)稱量的次數(shù),從第(4)問來看,似乎只需稱量3次,但判斷晶體是否完全失去結(jié)晶水,最后一次加熱前后至少要稱量2次,故至少應(yīng)進(jìn)行4次稱量。②第(5)問的答案:由第(4)問結(jié)果判斷,其計(jì)算依據(jù)為:
,解得x=5.3,從而判斷測定結(jié)果偏高,引起偏高的原因可能是B、C。
答案:(1)研缽瓷坩堝干燥器
(2)最后兩次加熱前后質(zhì)量數(shù)據(jù)差不超過0.1 g
(3)4 (4)5.3 (5)BC
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科目:高中化學(xué) 來源:物理教研室 題型:058
(1)加熱前應(yīng)將晶體放在________中研碎,加熱是放在________中進(jìn)行的,加熱失水后,應(yīng)放在中冷卻。
(2)判斷是否完全失去結(jié)晶水的方法是________。
(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作________次。
(4)下面是某學(xué)生的一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),完成計(jì)算,填入表的空格中。
坩堝質(zhì)量 11.7g
坩堝與晶體總質(zhì)量 22.7g
加熱后坩堝與固體總質(zhì)量 18.6g
測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù)
誤差(偏高或偏低)
(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是下列各點(diǎn)中的________所造成的(填A(yù)、B、C、D)。
A.硫酸銅晶體中含不揮發(fā)性雜質(zhì)
B.加熱過程中有晶體濺失
C.實(shí)驗(yàn)前晶體表面潮濕存水
D.最后兩次稱量質(zhì)量相差較大
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科目:高中化學(xué) 來源: 題型:058
在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:
(1)加熱前應(yīng)將晶體放在________中研碎,加熱是放在________中進(jìn)行的,加熱失水后,應(yīng)放在中冷卻。
(2)判斷是否完全失去結(jié)晶水的方法是________。
(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作________次。
(4)下面是某學(xué)生的一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),完成計(jì)算,填入表的空格中。
坩堝質(zhì)量 11.7g
坩堝與晶體總質(zhì)量 22.7g
加熱后坩堝與固體總質(zhì)量 18.6g
測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù)
誤差(偏高或偏低)
(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是下列各點(diǎn)中的________所造成的(填A(yù)、B、C、D)。
A.硫酸銅晶體中含不揮發(fā)性雜質(zhì)
B.加熱過程中有晶體濺失
C.實(shí)驗(yàn)前晶體表面潮濕存水
D.最后兩次稱量質(zhì)量相差較大
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科目:高中化學(xué) 來源: 題型:
在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:
(1)加熱前應(yīng)將晶體放在 中研碎,加熱是放在中進(jìn)行,加熱失水后,應(yīng)放在中冷卻。
(2)判斷是否完全失水的方法: 。
(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作 次。
(4)下面是某學(xué)生一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù),請完成計(jì)算,填入下面的表格中。
坩堝質(zhì)量 | 坩堝與晶體總質(zhì)量 | 加熱后坩堝與固體總質(zhì)量 | 測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù) |
11.7 g | 22.7 g | 18.6 g |
(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差偏高的原因可能是。
A.硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)性雜質(zhì)
B.實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C.加熱時(shí)有晶體飛濺出去
D.加熱失水后露置在空氣中冷卻
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科目:高中化學(xué) 來源: 題型:
. 在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:
(1)加熱前應(yīng)將晶體放在__________中研碎,加熱是放在__________中進(jìn)行,加熱失
水后,應(yīng)放在__________中冷卻。
(2)判斷是否完全失水的方法是______________________________________________。
(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作_________次。
(4)下面是某學(xué)生一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù),請完成計(jì)算,填入下面的表中。
坩堝質(zhì)量 | 坩堝與晶體總質(zhì)量 | 加熱后坩堝與固體總質(zhì)量 | 測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù) |
11.7g | 22.7g | 18.6g |
(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是________(填寫字母)所造成。
A.硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)性雜質(zhì) B.實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C.加熱時(shí)有晶體飛濺出去 D.加熱失水后露置在空氣中冷卻
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