B.移走玻璃磚.連接1.2和3.4交于直線MN. 查看更多

 

題目列表(包括答案和解析)

(2011?海淀區(qū)模擬)如圖所示裝置可用來(lái)分析氣體原子的組成.首先使待研究氣體進(jìn)入電離室A,在此氣體被電離成等離子體(待研究氣體的等離子體由含有一價(jià)正離子和電荷量為e的電子組成,整體顯電性).這些等離子體(統(tǒng)稱“帶電粒子”)從電離室下端狹縫S1飄出(忽略飄出的速度),經(jīng)兩極板間電壓為U的加速電場(chǎng)后(忽略這些帶電粒子被加速的時(shí)間),從狹縫S2沿垂直磁場(chǎng)方向進(jìn)入磁感應(yīng)強(qiáng)度為B的有界勻強(qiáng)磁場(chǎng),在磁場(chǎng)的上、下邊界處分別裝有水平底片E和F.當(dāng)雙刀雙擲開(kāi)關(guān)分別擲向1、2和3、4時(shí),發(fā)現(xiàn)從電離室狹縫S1飄出的帶電粒子分別打在E和F上的P、Q點(diǎn).已知狹縫S2與水平底片E上P點(diǎn)之間的距離d1=2.0cm,到水平底片F(xiàn)上Q點(diǎn)的水平距離d2=6.4cm,磁場(chǎng)區(qū)域?qū)挾萪=30cm.空氣阻力、帶電粒子所受重力以及帶電粒子之間的相互作用均可忽略不計(jì).
(1)試分析打在P點(diǎn)的帶電粒子的帶電性質(zhì),并寫(xiě)出該帶電粒子質(zhì)量的表達(dá)式;(要求用題中的字母表示)
(2)試確定打在Q點(diǎn)的帶電粒子的質(zhì)量和打在P點(diǎn)的帶電粒子的質(zhì)量之比;(結(jié)果保留兩位有效數(shù)字)
(3)若P點(diǎn)是底片E上刻度尺的右端點(diǎn),而實(shí)驗(yàn)中帶電粒子總是打到P點(diǎn)右側(cè),從而導(dǎo)致不便于測(cè)量帶電粒子擊中底片位置到狹縫S2的距離,應(yīng)如何調(diào)整可使帶電粒子能打在P點(diǎn)左側(cè)的位置.

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如圖所示,虛線a、b、c表示O處點(diǎn)電荷的電場(chǎng)中的三個(gè)不同的等勢(shì)面,設(shè)兩相鄰等勢(shì)面的間距相等,一電子射入電場(chǎng)后(只受電場(chǎng)力作用)的運(yùn)動(dòng)軌跡如圖中實(shí)線所示,其中1、2、3、4表示運(yùn)動(dòng)軌跡與等勢(shì)面的交點(diǎn),由此可以判定( 。

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如圖所示,虛線a、b、c表示O處點(diǎn)電荷的電場(chǎng)中的三個(gè)不同的等勢(shì)面,設(shè)兩相鄰等勢(shì)面的間距相等,一電子射入電場(chǎng)后(只受電場(chǎng)力作用)的運(yùn)動(dòng)軌跡如圖中實(shí)線所示,其中1、2、3、4表示運(yùn)動(dòng)軌跡與等勢(shì)面的交點(diǎn),由此可以判定( 。

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(20分)圖示正方形輕質(zhì)剛性水平桌面由四條完全相同的輕質(zhì)細(xì)桌腿1、2、3、4支撐于桌角A、B、C、D處,桌腿豎直立在水平粗糙剛性地面上。已知桌腿受力后將產(chǎn)生彈性微小形變,F(xiàn)于桌面中心點(diǎn)O至角A的連線OA上某點(diǎn)P施加一豎直向下的力F,令,求桌面對(duì)桌腿1的壓力F1。

   

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如圖所示,虛線a、b、c表示O處點(diǎn)電荷的電場(chǎng)中的三個(gè)不同的等勢(shì)面,設(shè)兩相鄰等勢(shì)面的間距相等,一電子射入電場(chǎng)后(只受電場(chǎng)力作用)的運(yùn)動(dòng)軌跡如圖中實(shí)線所示,其中1、2、3、4表示運(yùn)動(dòng)軌跡與等勢(shì)面的交點(diǎn),由此可以判定( )

A.O處的點(diǎn)電荷一定帶正電
B.電子運(yùn)動(dòng)過(guò)程中,動(dòng)能先增大后減小
C.a(chǎn)、b、c三個(gè)等勢(shì)面的電勢(shì)高低關(guān)系是φc>φb>φa
D.電子從位置1到2、3、4過(guò)程中電場(chǎng)力先做負(fù)功再做正功

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